Mikroskopie mit Röntgenstrahlen – Hochauflösende 3D-Bildgebung blickt in das Innere von Mikrochips
Mikroskopie mit Röntgenstrahlen – Hochauflösende 3D-Bildgebung blickt in das Innere von Mikrochips, © Fraunhofer IIS

Mikroskopie mit Röntgenstrahlen – Hochauflösende 3D-Bildgebung blickt in das Innere von Mikrochips

Nano-CT ist eine moderne Analysemethode um mit mikroskopischer Auflösung in das innere von Objekten zu schauen, wo normale Mikroskope nicht hinkommen. Forschende zeigen am Beispiel, wie man damit die Strukturen und Leiterbahnen in Mikrochips untersuchen kann. Somit können verborgene Fehler und Defekte sichtbar gemacht oder die Mikrochips auf ihre Funktion und Authentizität geprüft werden.

InfostandVorführung

17:00 – 00:00 Uhr

barrierefreier Zugang Abendkasse Parkplatz vorhanden Essen erhältlich Getränke erhältlich
Wissenschaftszweig(e)

Elektrotechnik und Informationstechnik

Tour

W04W04 Tour Fraunhofer Erlangen-Fürth Fraunhofer-Institut

Umstiegsmöglichkeiten:
W05

Anfahrt mit dem VGN

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